二手网络分析仪-二手网络分析仪出售-天津国电仪讯公司
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天津国电仪讯科技有限公司

经营模式:生产加工

地址:天津市西青经济技术开发区赛达九纬路七号电子城大数据产业园10号楼314-315室

主营:测试仪器

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产品品牌:国电仪讯
供货总量:不限
价格说明:议定
包装说明:不限
物流说明:货运及物流
交货说明:按订单
有效期至:长期有效

远场测试技术虽然早成熟,但是由于其对大测试场地和电磁环境的特殊要求,测试非常不方便,人们一方面用紧缩场产生平面波来模拟无线长度的场地,另一方面则是用近场测试代替远场测试。

近场测量的原理是在一个面上采集待测天线近场数据,然后通过近远场变换算法,得到待测天线远场辐射特性。根据取样面的形式,可分为平面扫描、极平面扫描、柱面扫描和球面扫描技术,平面近场测量使用为普遍。近场测量的原始数据需要包含幅度相位信息,仪器设备主要是矢量网络分析仪,或测量接收机、信号源等组成。

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视频作者:天津国电仪讯科技有限公司







内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器,测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用,在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描,但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比,使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善(使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍)。

基于VNA的测试系统为测量无线通信和航空/系统中所使用的射频和微波元件提供了动力。与传统VNA相比,Agilent PNA-X微波网络分析仪的先进体系结构具有更大的灵活性,使工程师们可以通过一次连接便能测量各种各样的元件。PNA-X内主要的增加项是第二个信号源和内部宽带信号合路器,从而简化了放大器、混频器和变频器的测量。除S参数、压缩和谐波的传统单信号源测量之外,两个信号源还可用于IMD、相位随驱动的变化、热态S参数和真实激励模式的测试。PNA-X端口上信号源的高功率输出、低谐波和宽功率扫描范围的属性完全适应当前器件的测试要求。

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